关键词：X射线衍射;Rietveld拟合;晶胞参数;TS-1
摘 要：利用X射线衍射技术(XRD)对钛含量不同的系列钛硅分子筛(TS-1)的晶体结构进行研究。通过调节XRD测试的仪器参数,确定了最优试验条件,建立了利用Rietveld全谱拟合计算钛硅分子筛晶胞参数的方法。通过计算发现:原料中钛摩尔分数低于2.5%时制备的分子筛的晶胞参数随钛含量增加呈线性增加,推断分子筛制备时部分钛进入骨架;原料中钛摩尔分数为2.5%~8.0%时制备的分子筛的晶胞参数基本不变,推断制备时钛摩尔分数高出2.5%的部分不再进入分子筛骨架。
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