关键词：测试数据压缩；测试位重组；对称编码；游程赋值
摘 要：应对大规模数字集成电路测试面临的日益严峻的挑战,在测试位重组基础上提出由游程赋值策略和对称编码组成的综合压缩方案.该赋值策略能够动态填充无关位,减少不必要的游程分裂,尽可能最大化游程长度.提出的对称编码受益于测试位重组和游程赋值所增加的长游程和端连续块,不仅提高码字的利用率,还能够用固定的4位短码字标识长达模式位数的端连续块,减少编码位数.给出的实验结果表明了所提综合压缩方案获得了较高的数据压缩率,远高于已发表的各类压缩方案,并且能够大量减少功耗.因而,该综合压缩方案具有较高的实用性,特别对于大规模集成电路测试,其效果更佳.