晶体硅组件长期运行后性能及衰退原因分析
作者:舒碧芬;沈辉;陈美园;梁齐兵;葛文君;郑海兴
作者单位:中山大学太阳能系统研究所,广州510006;中山大学太阳能系统研究所,广州510006;广东产品质量监督检验研究院,广州510330
加工时间:2014-02-15
信息来源:《太阳能学报》
关键词:晶体硅光伏组件;电性能;衰退;寿命
摘 要:介绍了两组已使用20a以上的晶体硅光伏组件的电性能测试结果,分析并评价了组件的电性能状况,统计、归纳了组件的一些外观缺陷,并分析了导致组件失效和电性能衰减的原因.测试结果表明:户外使用20a的多晶硅光伏组件平均功率仅下降6.1%,单晶硅光伏组件的平均功率下降13.0%,均能表现出良好的电性能,为晶体硅电池的寿命估计提供了有力数据.