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应用粉末压片-X射线荧光光谱法检验铁矿石样品的均匀性
作者:王利杰;张健;杨志强;张东生 作者单位:首钢技术研究院检测中心,北京100043 加工时间:2013-12-15 信息来源:《冶金分析》
关键词:X射线荧光光谱法;铁矿石;粉末压片;均匀性;方差分析
摘 要:介绍了采用粉末压片制样,X射线荧光光谱法测定铁矿石样品中的化学成分,然后用方差分析法对测定结果进行统计检验的方法.实验使用铁精粉和磁铁矿按照1∶1的比例混合配制成1 #和2#两个试验样品,经过研磨和压片后,在样品的4个水平(方向)上各测定5 次,利用MINITAB软件对试验数据进行方差分析,结果表明1 #样品不均匀,2#样品均匀.根据统计量F比值可知Fe元素的可靠性最好.同时,采用国家标准方法(GB/T 6730.5-2007)对1 #和2 #试验样品中TFe含量各测定10次,得到标准偏差分别为0.16%和0.044%,与该方法给出的实验室内标准偏差(0.055%)比较后,进一步证明了用本文的方法检验铁矿石样品的均匀性是可行的.
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