关键词：超细WC晶粒统计；EBSD；X射线衍射；SEM图像分析法；经验公式法
摘 要：硬质合金中WC晶粒度的统计随其尺寸的降低,难度大幅升高。本文作者在多次实验的基础上,成功地将电子背散射衍射(EBSD)技术应用于超细WC-Co硬质合金WC晶粒尺寸统计。以样品A合金(晶粒度约0.2~0.4μm)为例,应用EBSD统计其平均晶粒尺寸为0.36μm的同时,还与其他晶粒度统计方法进行对比分析。另外,取样品B(晶粒度约0.1~0.3μm),经两种不同的烧结工艺烧结后分别进行EBSD分析,对比分析烧结温度对超细WC晶粒长大的影响。
内 容：原文可通过湖北省科技信息共享服务平台（http://www.hbstl.org.cn)获取