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MgO(001)基片上沉积Ni-Mn-Ga薄膜相变行为和磁性能研究
作者单位:许连强,程丽,XU Lianqiang,CHENG Li(宁夏师范学院物理与信息技术学院,固原,756000)谢忍,XIE Ren(南京大学物理学院,南京,210093) 加工时间:2013-12-15 信息来源:材料导报
关键词:磁控溅射;铁磁材料;马氏体相变;Ni-Mn-Ga薄膜;磁性能;magnetron sputtering;magnetic materials;martensitic transformation;Ni-Mn-Ga films;magnetic properties
摘 要:采用室温沉积高温退火的方式在单晶MgO(001)基片上制备了具有马氏体相变的铁磁Ni-Mn-Ga薄膜.沉积态薄膜呈柱状晶结构,高温退火后柱状晶的晶界变得模糊.溅射气压为0.5 Pa和0.2 Pa的薄膜的马氏体相变起始温度分别为290 K和332K,溅射气压改变了薄膜成分,进而改变了相变温度.根据300K测得的磁化曲线,退火后溅射气压为0.5 Pa和0.2 Pa的薄膜分别显示出软磁和硬磁特性,这与M-T曲线的结果是相符的.室温下,0.5 Pa薄膜的磁畴形貌呈现出迷宫状;而0.2Pa样品则显现出马氏体的浮凸,与它的磁畴形貌直接关联.
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