关键词：X射线计算机断层扫描;纳米CT成像;锦纶6纤维;二氧化钛颗粒;分散
摘 要：无机纳米材料与高分子基质共混构成有机-无机复合材料,对其电学、光学和机械性能产生显著影响,因而受到广泛关注[1-5].为使其性能得到切实改善,需要使无机纳米材料在高分子基质中均匀分散[6-7].对其分散状态的检测传统方法是对材料进行超薄、连续切片后,用透射电子显微镜(TEM)进行观察[8,9].由于材料的厚度只能在10 nm左右,需要对大量切片进行观测才能获得其中无机纳米材料分布的全面信息.此外,某些样品在切片过程中因剪切而发生形变,使TEM结果出现假象,因此限制了方法的应用.