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X射线荧光光谱法测定镍电解液中的镍、氯、硫酸根
作者:王纪华;刘晓丽;高龙;王琳;李婷 作者单位:金川集团有限公司检测中心,甘肃金昌737100 加工时间:2013-11-15 信息来源:《冶金分析》
关键词:镍电解液;镍;氯;硫酸根离子;X射线荧光光谱法
摘 要:本文利用低功率X射线荧光分析技术(XRF)对电解镍溶液样品进行了研究,重点探讨了影响镍电解液中Ni2+、Cl-、SO42-同时测量的因素,优化了实验条件.实验表明,镍的质量浓度(ρ)在35~110 g/L、氯离子的质量浓度(ρ)在30~90 g/L、硫酸根离子的质量浓度(ρ)在55~160 g/L范围内,待测元素质量浓度与其荧光强度存在着良好的线性关系.将本方法用于镍电解液实际样品分析,测得结果与其它化学分析方法结果相符合,相对标准偏差(RSD,n=11)为0.3%~0.4%.
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