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离子辅助沉积电子束蒸发Si基SiO_2薄膜的研究
作者:陈京湘;崔碧峰;丁颖;计伟;王晓玲;张松;凌小涵;李佳莼;马钰慧;苏道军; 作者单位:北京工业大学光电子技术省部共建教育部重点实验室;邓迪大学工程物理和数学学院;集成光电子学国家重点联合实验室;华侨大学信息科学与工程学院; 加工时间:2013-12-20 信息来源:半导体光电
关键词:光学薄膜;;电子束蒸发;;离子辅助沉积(IBAD);;折射率
摘 要:研究了离子辅助沉积(IBAD)电子束蒸发和传统电子束蒸发两种镀膜方式在Si(100)面基底所镀SiO2光学薄膜的特性。特别是在离子辅助沉积下,分析了不同工艺条件改变对SiO2光学薄膜的光学特性的影响。结果表明,无论表面形貌、折射率均匀性,还是湿度稳定性,离子辅助电子束蒸发都优于传统电子束蒸发的SiO2光学薄膜,在离子辅助沉积条件下,薄膜折射率在40~160℃范围随衬底温度的升高而提高,镀膜时真空度为1.5×10-3 Pa、沉积速率为5nm/s、离子源驱动电压为285.4V、离子源辅助气体分压比PAr∶PO=1∶1时,SiO2光学薄膜的光学特性最好。
内 容:原文可通过湖北省科技信息共享服务平台(http://www.hbstl.org.cn)获取
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