关键词：TDC；高斯分布；微电容测量；Pcap01AD
摘 要：提出一种基于Pcap01AD的微小电容测量电路设计,可对0-100p F之间的微小电容进行高精度测量。该设计基于TDC(时间数字转换)原理,系统硬件主要由STM32F101C8T6单片机和Pcap01微电容测量芯片两部分组成。系统软件包括下位机软件和上位机软件,下位机主要完成对电容测量数据的读取以及发送至上位机,上位机则对数据作进一步处理和显示。实验证明,该系统的测量精度非常高,在以22p F为基础电容时,其测量最小误差率仅为9.8×10-7%。
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