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一种准光带阻滤波器的仿真与实验研究
作者:李颢一;杨梓强;范少杰 作者单位:电子科技大学物理电子学院,成都610054;中国电子科技集团公司第二十七研究所,郑州450005 加工时间:2013-10-15 信息来源:《材料导报》
关键词:开口谐振环(SRR);带阻滤波器;左手材料;极化角度
摘 要:对中心频率为225GHz的谐振环结构(SRR)带阻滤波器进行了仿真分析和实验研究.采用HFSS仿真模拟技术,研究了SRR开口宽度、线宽、加载介质以及极化角度等相关参量对其谐振特性的影响.结果表明,该带阻滤波器的频率响应特性对场极化角度的敏感性很低,具有较好的稳定性;实验中测试到样品的中心频率为225.6GHz,与仿真结果有一定的偏差.通过进一步分析发现,影响频率偏移的主要因素是样品的实际尺寸偏小和介质的介电常数偏大,导致实际测试响应频率小于设计值.
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