关键词：MOSFET；仿真；TO-263器件；可靠性；疲劳寿命；失效
摘 要：通过ANSYS有限元分析软件对TO-263器件功率MOSFET管进行电-热-机械耦合分析,并对其热疲劳寿命作出预测。首先进行了瞬态热分析,得出了芯片的热通量变化图,在此基础上进行模拟并通过Coffin-Manson定律预测功率MOSFET管的热疲劳寿命。结果表明,TO-263器件功率MOSFET管的热疲劳失效循环总数为6 113。
内 容：原文可通过湖北省科技信息共享服务平台（http://www.hbstl.org.cn)获取