超浅结亚45nm MOSFET亚阈值区二维电势模型
作者:韩名君;柯导明;
加工时间:2015-01-15
信息来源:电子学报
关键词:超浅结亚45nm MOSFET;二维电势半解析模型;亚阈值电流
摘 要:文章提出将亚阈值区超浅结MOSFET的氧化层和Si衬底划分为三个区域,得到三个区域的定解问题,并用特征函数展开法求出了因边界衔接条件而产生的未知系数,首次得到超浅结亚45nm MOSFET的二维电势半解析模型,并给出了亚阈值电流模型.通过与Medici模拟结果对比发现该模型能够准确模拟亚阈值下的超浅结15~45nm MOSFET的二维电势和电流.
内 容:原文可通过湖北省科技信息共享服务平台(http://www.hbstl.org.cn)获取