关键词：X射线荧光光谱；粉末压片法；氧化铝；杂质元素
摘 要：介绍了X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素的方法.研究了粉末压片法中助研剂丙二醇的选择和用量,考察了氧化铝粒度对X射线荧光强度的影响.试验表明,样品的粒度达到40μm以下,粒度效应减弱；对于10.0g氧化铝样品,加2滴丙二醇,研磨40 s,并用硼酸镶边垫底,制备的测量样片效果较好.用系列氧化铝标准样品作校准曲线,对样品中11个元素进行测定,其SiO2、Fe2O3、Na2O、K2O、CaO、Ga2O3、ZnO测得结果的相对标准偏差(RSD)均小于8.0％,P2O5、TiO2、V2O5、Cr2O3的含量在3倍检出限以上,RSD小于10％,含量在3倍检出限以下的RSD小于17％.用氧化铝标准样品验证,测量结果与标准样品的认定值基本一致.