关键词：叶腊石；单斜晶系；微结构；粒径效应；高分辨透射电镜
摘 要：采用X射线粉晶衍射(XRD)、高分辨透射电镜(HR-TEM)及X射线荧光光谱(XRF)对青田叶腊石的矿物学特征进行了较为系统的研究.结果表明:叶腊石矿物颗粒微结构中最基本的构成单元为纳米板片,且该板片多呈聚集态,单层板片面积大小不一,厚度为(8±2)nm.XRF分析结果表明青田叶腊石原矿混合物中SiO2与Al2O3的分子个数比为6.2,明显高于纯叶腊石中SiO2与Al2O3的分子个数比4.0.HR-TEM对叶腊石晶体结构的研究证实青田叶腊石具有典型的单斜晶系特征,该结论与叶腊石XRD结论一致；且XRD分析结果证实其伴生矿为石英,该结论与XRF所获得的青田叶腊石的“富硅”特征吻合.此外,叶腊石微结构中存在着较明显的晶体缺陷.在高能电子束辐照作用下,叶腊石晶体结构发生明显的破坏,并最终转变为非晶态结构.