关键词：IP核复用；测试结构；测试访问机制；带宽匹配
摘 要：IP(intellectual property)核复用的设计思想使得SoC(system-on-a-chip)成为当今集成电路设计的主流,但对其进行测试变得异常困难,这就是需要为SoC设计测试结构的主要原因.传统的测试结构功能是:根据自动测试设备(automatic test equipment,ATE)提供的某一频率,将测试数据通过测试结构依次施加到SoC内部的IP核,并获取测试响应传输到ATE中,以分析其功能正常与否.但是这种测试结构存在很多缺点,其中最主要的是未考虑测试设备提供的测试访问机制(test access mechanism,TAM)的宽度与SoC内各IP核的最佳测试带宽是否一致.对这一系列问题进行研究,提出一种基于带宽匹配思想的SoC测试结构设计方法,该方法主要通过一个带宽匹配转换模块,实现测试数据的宽度调整和施加频率的调整,在牺牲了芯片部分额外面积的前提下,很好地实现了测试带宽和测试频率的匹配,缩短了SoC的测试时间.最后将这种方法应用在ITC' 02标准测试集上,实验结果验证了该方法的有效性.