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氮气退火对氧化镍薄膜光电特性的影响
作者:赵启义;祁康成;赵荣荣;张国宏 作者单位:电子科技大学光电信息学院,成都610054 加工时间:2013-12-15 信息来源:《材料导报》
关键词:磁控溅射;NiO薄膜;氮气退火
摘 要:利用磁控溅射法,在K9玻璃基底上沉积氧化镍(NiO)薄膜.采用不同温度时氧化镍薄膜进行氮气退火,使用UV1700型分光光度计、JSM-6490LV型扫描电子显微镜、四探针电阻计等分析退火后氧化镍薄膜性能的变化.实验结果表明,500℃退火范围内,氧化镍薄膜的透过率随退火温度的升高明显增加,400℃时透过率达到最大在80%以上,且光学带隙最小,结晶度较高,薄膜成分变化较小,更适于太阳电池窗口层的应用研究.
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