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并行折叠计数器的BIST方案
作者:梁华国;易茂祥;李鑫;陈田;王伟 作者单位:合肥工业大学电子科学与应用物理学院,安徽合肥23009;合肥工业大学计算机与信息学院,安徽合肥23009 加工时间:2014-07-15 信息来源:《电子学报》
关键词:内建自测试;线性反馈移位寄存器;并行折叠计数器;多扫描链;测试数据压缩
摘 要:本文提出了一种新的基于初始状态的并行折叠计数结构,并给出了建议的多扫描链的BIST方案.与国际上同类方法相比,该方案需要更少的测试数据存储容量、更短的测试应用时间,其平均测试应用时间是同类方案的0.265%,并且能很好地适用于传统的EDA设计流程.
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