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4H-SiC的强氧化液化学机械抛光(英文)
作者:梁庆瑞;胡小波;陈秀芳;徐现刚;宗艳民;王希杰; 加工时间:2016-08-05 信息来源:人工晶体学报
关键词:碳化硅;化学机械抛光;高锰酸钾;粗糙度;去除率
摘 要:研究了一种新型的化学机械抛光方法,使用以KMnO 4作为氧化剂的强氧化性化学机械抛光液(SOAS)进行化学机械抛光。研究了在4H-SiC硅面和碳面的化学机械抛光过程中,SOAS溶液中KMnO 4的浓度对抛光质量的影响。使用原子力显微镜(AFM)和精密电子天平,分别测试了表面粗糙度和去除率。结果表明,适量的KMnO 4可以大幅度提高4H-SiC的化学机械抛光去除率,同时可提高4H-SiC衬底的表面抛光质量。
内 容:原文可通过湖北省科技信息共享服务平台(http://www.hbstl.org.cn)获取
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