忆阻器材料的研究进展
作者:曲翔;肖清华;刘斌;闫志瑞;周旗钢;徐文婷
作者单位:有研半导体材料股份有限公司,北京100088;有研半导体材料股份有限公司,北京100088;北京有色金属研究总院,北京100088
加工时间:2013-12-15
信息来源:《材料导报》
关键词:忆阻器;薄膜材料;阻变机制;电激励
摘 要:忆阻器( RRAM)是一种新兴的非挥发性存储器,具有简单的器件结构、较快的操作速度和相对较小的功耗.简述了忆阻器的基本原理以及该领域材料方面的最新研究进展,其中重点介绍了HP忆阻器模型;综述了基于不同薄膜材料制备的忆阻器的特性,如有机材料、固态电解液材料、多元金属氧化物、二元金属氧化物等;阐述了忆阻器的重要意义及面临的巨大挑战,提出了未来该领域需要加强研究的若干问题.