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单层MoS_(1.89)X_(0.11)电子结构及光学性质的第一性原理计算
作者:范梦慧;蔡勋明;岑伟富;骆最芬;谢泉; 加工时间:2015-10-15 信息来源:激光与光电子学进展
关键词:材料;电子结构;光学性质;掺杂;第一性原理;Mo S2
摘 要:采用基于第一性原理的贋势平面波方法,对比研究未掺杂和分别掺杂非金属P、半导体Si及金属Al的单层Mo S2的电子结构和光学性质。计算结果表明:掺杂均转变为p型半导体且导带向低能方向显著偏移,带隙减小,掺P和Si由K点转变为Γ点直接带隙、掺Al形成K-Γ间接带隙半导体;通过态密度和布局分析得出:掺杂改变载流子的浓度及杂质原子与S-3p、Mo-4d形成的杂化轨道,对光学性质产生相应影响,其中掺Al对Mo S2的光学性质影响最为显著,可增大Mo S2的静态介电常数、折射率n0,降低能量损失。
内 容:原文可通过湖北省科技信息共享服务平台(http://www.hbstl.org.cn)获取
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