关键词：DFH；可靠性分析；有限元；热效应；电流拥挤效应
摘 要：磁头内置DFH控制元件的可靠性设计评估十分重要,目前工艺上多采用经验数据指导的方法,误差十分大,理论上是根据传统流体力学的基本原理,利用Matlab软件实现模拟评估的,由于元件尺寸限制,模拟算法会随着舍入误差的叠加而失效.本文使用ANSYS软件,通过实验获得建立模型的基本参数,选择了合适的单元类型、材料属性,给出了磁头的有限元模型.利用模型对元件进行的寿命预测实验表明,有限元模型分析DFH控制元件的设计可靠性问题是有效的,并且得出以下结论:在50Ω的新型DFH计算结果中,其热效应强度比传统屏蔽层大10％以上,实际的寿命失败样品问题区域都在线路的转角处.