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ZnO/p-Si异质结的I-V及C-V特性研究
作者:熊超;袁洪春;徐安成;陈磊;陆兴中;姚若河; 作者单位:常州工学院光电工程学院;华南理工大学电子与信息学院; 加工时间:2013-12-20 信息来源:半导体光电
关键词:ZnO/p-Si异质结;;I-V特性;;C-V特性;;内建电势;;界面态
摘 要:通过磁控溅射Al掺杂的ZnO陶瓷靶,在p-Si片上沉积n型电导的ZnO薄膜而制备了ZnO/p-Si异质结,并通过测试其光照下的I-V、C-V特性对其光电特性以及载流子输运特性与导电机理进行了研究。研究表明ZnO/p-Si异质结存在良好的整流特性与光电响应,可以广泛应用在光电探测和太阳电池等领域。由于在ZnO/p-Si异质结界面处的导带补偿与价带补偿相差太大的缘故,在正向电压超过1V时,导电机理为空间电荷限制电流导电。同时,研究表明ZnO/p-Si异质结界面存在大量界面态,可以通过减小界面态进一步提高其光电特性。
内 容:原文可通过湖北省科技信息共享服务平台(http://www.hbstl.org.cn)获取
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