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应用正电子湮没谱学技术研究Fe-Cu合金微观缺陷的进展
作者单位:成国栋,伍海彪,CHENG Guodong,WU Haibiao(成都理工大学核技术与自动化工程学院,成都610049;中国科学院高能物理研究所核分析技术重点实验室,北京100049)曹兴忠,杨静,姜小盼,于润升,王宝义,CAO Xingzhong,YANG Jing,JIANG Xiaopan,YU Runsheng,WANG Baoyi(中国科学院高能物理研究所核分析技术重点实验室,北京,100049)吴建平,WU Jianping(成都理工大学核技术与自动化工程学院,成都,610049) 加工时间:2013-12-15 信息来源:材料导报
关键词:正电子湮没;Fe-Cu合金;微观缺陷;Cu析出
摘 要:针对近年来材料辐照改性、辐照损伤等复杂微观缺陷结构的研究,以二元Fe-Cu合金辐照损伤缺陷及微量Cu析出物的微观结构研究为基础,综合论述正电子湮没谱学技术(PALS,CDB,AMOC)在Fe-Cu合金复杂微观缺陷结构研究中的应用研究进展.
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