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辐照和注入条件下HEMP对电话机的损伤效应研究
作者:杨杰; 李跃波; 黄刘宏; 邓双 加工时间:2024-08-27 信息来源:防护工程
关键词:HEMP;电话机;辐照注入同步;损伤效应
摘 要:辐照法和注入法是研究电磁脉冲对电子信息设备损伤效应的有效试验方法,目前设备级效应试验基本只能利用单独一种方法进行研究。基于研制的辐照和注入同步试验设备,开展了HEMP对电话机的单独辐照、单独注入和辐照注入同步损伤效应试验研究,并对试验研究结果进行了对比分析,得到了辐照和注入试验的损伤阈值,为后期系统研究辐照和注入同步条件下HEMP对各种电子信息设备的损伤效应提供了方法参考。
内 容:原文可通过湖北省科技资源共享服务平台(https://www.hbsts.org.cn/)获取
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