欢迎访问行业研究报告数据库

行业分类

当前位置:首页 > 报告详细信息

找到报告 1 篇 当前为第 1 页 共 1

相控阵声束焦距深度与晶片数目的优化研究
作者:于达;齐向前;孙亚娟;郑渝; 作者单位:天津工业大学;天津诚信达金属检测有限公司; 加工时间:2013-12-20 信息来源:现代电子技术
关键词:相控阵技术;;聚焦深度;;激发孔径;;线型阵列换能器;;声束
摘 要:相控阵技术的突出优点包括实现灵活聚焦和激发孔径的自由选择。相控阵技术在实际检测过程中聚焦深度一般会固定但是其聚焦深度与激发孔径的大小(即激发晶片数目的多少)之间具有复杂的相互关联和制约关系。因此基于相控阵声束形成及聚焦的原理,采用32阵元线型阵列换能器,通过实验方式研究了聚焦深度为10~50 mm时激发孔径的最佳范围。研究结果希望会对今后的相控阵检测起到重要的参考价值。
内 容:原文可通过湖北省科技信息共享服务平台(http://www.hbstl.org.cn)获取
© 2016 武汉世讯达文化传播有限责任公司 版权所有
客服中心

QQ咨询


点击这里给我发消息 客服员


电话咨询


027-87841330


微信公众号




展开客服