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快速热氧化制备超薄二氧化硅层及其钝化效果
作者:郭春林;汪雷;戴准;房剑锋;郑佳毅;杨德仁; 加工时间:2015-03-15 信息来源:材料科学与工程学报
关键词:RTO;SiO2薄膜;太阳电池;钝化
摘 要:二氧化硅(SiO2)是制备高效晶体硅太阳电池常用的钝化手段。本文利用快速热氧化(RTO)技术在晶体硅表面制备超薄SiO2层,考察其对硅表面的钝化作用。在100%O2气氛下,900℃RTO处理180s,可以使样品的少子寿命达到146.6μs的最佳值。采用RTO方法制备的SiO2薄膜厚度可以控制在几个纳米范围。通过与等离子体增强化学气相沉积(PECVD)系统沉积的氮化硅(SiNx)薄膜形成叠层钝化膜,可以进一步提高对太阳电池表面的钝化效果。单层SiNX薄膜钝化的样品有效载流子寿命为51.67μs,SiO2/SiNx叠层薄膜钝化的样品有效载流子寿命提高到151.18μs。
内 容:原文可通过湖北省科技信息共享服务平台(http://www.hbstl.org.cn)获取
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