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基于分段密集采点法的圆形材料半径非接触测量
作者:李要球;王锐; 作者单位:淮海工学院电子工程学院;重庆市计量质量检测研究院; 加工时间:2013-12-20 信息来源:仪表技术与传感器
关键词:分段密集采点法;;圆形材料;;半径测量;;非接触测量;;数据标定
摘 要:对瓦状圆形材料的半径利用分段密集采点法进行测量,分析了分段密集采点法的数学模型及算法原理,并对算法的测量误差进行了讨论。在测量中首先利用图像采集卡获取材料的图像,利用图像处理技术提取材料边缘,扫描材料最尖端边界点的坐标,然后在边缘上选取间隔较大的三点做采样点,借助计算机软件编程算法求出圆心坐标,测得瓦状圆形材料半径的像素值。通过对测量的像素值进行数据的标定处理,最终得到瓦状材料半径的实际数值。从对测量结果的误差分析,最大偏差没有偏离出不确定度,误差较小。
内 容:原文可通过湖北省科技信息共享服务平台(http://www.hbstl.org.cn)获取
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