关键词：身份认证;;设备指纹;;倒谱分析
摘 要：近耦合RFID系统得到了广泛应用,其安全问题也得到了越来越多的重视。提出了近耦合RFID标签的一种基于物理特征的倒谱设备指纹认证方法。建模理论分析与基于ISO 14443A标签的实验结果表明:新的倒谱设备指纹消除了标签的数字信息影响,主要由标签硬件的物理性质决定。所提出方法可用于近耦合RFID标签的物理层身份识别与验证。
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