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基于FPGA的E3误码仪的设计与应用
作者:胡辽林;刘雪峰; 作者单位:西安理工大学机械与精密仪器工程学院; 加工时间:2013-12-20 信息来源:光通信技术
关键词:现场可编程门阵列;;同步数字系列;;E3;;误码仪
摘 要:设计了基于FPGA的E3速率等级的误码仪(E3-BER),由伪随机码产生模块、两路信号比较模块、计数模块和显示模块4部分构成,分别用E3-BER和SDH分析仪(ANT-5)测试了基于FPGA的SDH E3复用/解复用系统,在相同的测量时间内(1星期),误码均为0。测试结果间接验证了设计的正确性。
内 容:原文可通过湖北省科技信息共享服务平台(http://www.hbstl.org.cn)获取
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