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标准Ge-on-SOI工艺全差分光电探测器(本期优秀论文)
作者:康玉琢;毛陆虹;张世林;谢生; 作者单位:天津大学; 加工时间:2013-12-20 信息来源:光通信技术
关键词:定向耦合器;;偏振分束器;;锗光电探测器;;全差分;;光束传播法;;Ge-on-SOI
摘 要:基于IME标准Ge-on-SOI工艺提出了一种全差分光电探测器结构,由定向耦合偏振分束器与锗垂直PIN光电探测器组成,可将一路由单模光纤输入的高速1550nm光信号转换为一对高速差分电信号。分析并设计了具体结构,进行了器件模拟,模拟得到定向耦合偏振分束器TE波与TM波的消光比分别为-16.7dB与-15.7dB,锗垂直PIN光电的响应度与带宽分别为0.42A/W与6.51GHz。
内 容:原文可通过湖北省科技信息共享服务平台(http://www.hbstl.org.cn)获取
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