关键词：VLSI;;软差错;;概率门模型;;概率转移矩阵;;电路可靠度
摘 要：随着半导体技术的不断发展,芯片的集成度越来越高,软差错已经成为影响电路可靠性的关键因素之一。为了有效评估软差错对电路的影响,该文提出一种基于信号取值概率的门级电路可靠度估算方法。首先计算电路所有节点在软差错影响下的取值概率,然后用故障模拟分析电路整体可靠性。通过对基准电路的实验并与概率转移矩阵方法进行比较,该方法在不损失准确度的前提下,在时间与空间开销方面都具有优势,尤其适合估算特定向量和随机向量激励下电路的可靠度。
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