关键词：低频噪声;电子元器件;噪声特性;测试
摘 要：基于电子元器件低频噪声特性测试中,针对影响低频噪声测量系统准确性的因素,提出了一种改进型的低频噪声测量方法,优化设计电子元器件低频电噪声测试系统,放大噪声测试部分噪声,并可以分析电子元器件低频噪声测试过程中的低频噪声特性,从而可以有效证实通过测试低频噪声,就能够验证电子元器件质量是否缺陷,分析电子元器件的使用可靠性。在本文之中,将会基于电子元器件介绍其低频噪声特性和相关测试技术方案。
内 容：原文可通过湖北省科技信息共享服务平台（http://hbstl.hbstd.gov.cn/webs/homepage.jsp)获取