关键词：X射线断层扫描;食品;检测;应用;原理
摘 要：X射线断层扫描(X-ray computed microtomography,CT)技术是一种高质、高效的无损检测技术,具有无需对样品进行复杂的预处理,操作简便快捷等优点,因此其在食品领域中具有广阔的应用前景。在简要介绍CT技术的基本原理和基本装置的基础上,综述其在食品检测中的应用,并对其在食品科学领域的应用前景进行展望,以期为CT技术在食品研究中的推广提供借鉴。
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