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SiC陶瓷真空钎焊接头显微组织和性能
作者:冯广杰;李卓然;朱洪羽;徐慨; 加工时间:2015-01-15 信息来源:材料工程
关键词:SiC陶瓷;真空钎焊;显微组织;剪切强度
摘 要:在高真空条件下采用Ti-35Zr-35Ni-15Cu(质量分数/%)钎料对SiC陶瓷进行了钎焊连接,研究了接头界面组织的形成过程以及工艺参数对接头性能的影响。结果表明:钎料与SiC陶瓷发生了复杂的界面反应,生成了多种界面产物。当钎焊温度为960℃,保温时间为10min时,SiC陶瓷侧形成了连续的TiC和Ti5Si3+Zr2Si层,同时Ti5Si3+Zr2Si向钎缝中心生长呈长条状。SiC陶瓷到接头钎缝中心的显微组织依次为:SiC/TiC/Ti5Si3+Zr2Si/Zr(s,s)/Ti(s,s)+Ti2(Cu,Ni)/(Ti,Zr)(Ni,Cu)。钎焊温度为960℃,保温时间为30min时,长条...
内 容:原文可通过湖北省科技信息共享服务平台(http://www.hbstl.org.cn)获取
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