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基于统计量模式分析的T-KPLS间歇过程故障监控
作者:常鹏;王普;高学金; 加工时间:2015-01-15 信息来源:化工学报
关键词:故障监控;核函数全影结构投影;统计量模式分析
摘 要:核函数的全影结构投影(total kernel projection to latent structures,T-KPLS)最近在故障监控领域取得了广泛应用,其实质是对数据矩阵的协方差矩阵进行分解,没有利用数据的高阶统计量等有用信息,在进行特征提取时会造成数据有用信息的丢失,导致故障识别效果差。为了解决此问题,提出了统计量模式分析(statistics pattern analysis,SPA)与核函数的全影结构投影法(total kernel projection to latent structures,T-KPLS)相结合的多向统计量模式分析的核函数的全影结构投影法(multi-way...
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