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FPGA开关矩阵中基于通道结构的漏电流优化方法
作者:王一;杨海钢;余乐;孙嘉斌; 作者单位:中国科学院电子学研究所;中国科学院大学; 加工时间:2013-12-20 信息来源:电子与信息学报
关键词:FPGA;;互连结构;;开关矩阵;;开关盒;;漏电流
摘 要:从通道互连结构角度考虑,该文提出一种降低FPGA中开关矩阵漏电流的方法。根据漏电流与电路输入、输出状态有关的结论,利用连线开关盒(SWB)对信号的传输特性,将FPGA中开关矩阵的漏电优化等效在小规模的矩阵单元中实现。因为能够在有限的输出状态组合中搜寻最小漏电状态,相比仅通过电平恢复器确定SWB输出状态的方法,该算法能有效地降低漏电流,并且兼容电路级的漏电流优化方法。
内 容:原文可通过湖北省科技信息共享服务平台(http://www.hbstl.org.cn)获取
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