关键词：深度学习;电子信息材料;声参数检测
摘 要：研究深度学习在电子信息材料声参数检测中的应用，通过多传感器阵列采集声信号，并利用卷积神经网络进行参数反演，通过构建多层神经网络实现声学信号的高效处理与特征提取。实验结果显示，应用该技术，可在提高检测精度的同时显著缩短检测时间，相对误差控制在2%以内，单次检测时间缩短至2 s。
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