关键词：电子设备;工作寿命;加速因子;加速试验
摘 要：电子设备具有长寿命、高可靠的特点,若采用传统方法对其进行寿命试验,则存在样本少、失效机理复杂、试验周期长、费用代价高的问题,为此该文给出一种针对高可靠电子产品工作寿命的综合评估方法,该方法能够充分利用已有产品在研制阶段经历的工作剖面,通过提取其中的加速应力和施加方式,利用加速试验模型,计算加速因子,再根据定型要求确定剩余寿命的考核实施方案,从而满足工程要求。
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