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化学机械抛光过程中抛光液团聚问题的研究
作者:梁振;李薇薇;赵之琳; 加工时间:2020-03-25 信息来源:电镀与涂饰
关键词:化学机械抛光;二氧化硅胶体;团聚;保湿剂;蓝宝石晶圆;材料去除速率;表面粗糙度
摘 要:在化学机械抛光(CMP)用二氧化硅浆料中加入不同质量分数的混合保湿剂(由体积比为1∶1的分析纯丙三醇和三乙醇胺混合而成),以解决CMP过程中抛光液易团聚的问题。结果表明,抛光液中加入保湿剂后团聚问题得到缓解。随保湿剂质量分数的增大,抛光液的团聚析出量减少,黏度增大,对蓝宝石晶圆的去除速率先增大后减小,晶圆抛光后的表面粗糙度逐渐增大。当保湿剂的质量分数为4%时,对蓝宝石晶圆进行CMP时的材料去除速率最大,为93.6 nm/min,抛光后晶圆的表面粗糙度为0.412 nm。
内 容:原文可通过湖北省科技信息共享服务平台(http://www.hbstl.org.cn)获取
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